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Digital Systems Testing and Testable Design

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商品詳細情報

著者 : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
メディア : ハードカバー
DeweyDecimalNumber : 621
EAN : 9780780310629
Edition : Revised
ISBN : 0780310624
レーベル : Ieee
メーカー : Ieee
頁数 : 653
分類 : Book
発売日 : 1993-01-15
出版 : Ieee
スタジオ : Ieee

ASIN : 0780310624

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